Sun J., Park J., Schlom D.G., Schubert J., Suyolcu Y.E., Goodge B.H., Kourkoutis L.F.
Ключевые слова: YBCO, PrBCO, multilayered structures, nanoscaled effects, roughness, X-ray diffraction, electron diffraction, microstructure, substrate LaAlO3, molecular beam epitaxy, resistive transition, critical temperature, resistance, temperature dependence, fabrication, experimental results
Applied Physics Letters Materials, 2021, v.9, N 2, p.21117
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.